| Ders Öğrenme Çıktıları (DÖÇ) |
PÇ |
ODY |
| Bu dersi başarı ile tamamlayan öğrenciler: |
|
|
| DÖÇ-1 |
1- Yarıiletken malzemelerin fiziksel özellikleri ve farklı türde yarıiletken cihazların çalışma prensipleri arasındaki bağlantının kavranması |
PÇ-3 Karmaşık bir sistemi, süreci, cihazı veya ürünü gerçekçi kısıtlar ve koşullar altında, belirli gereksinimleri karşılayacak şekilde tasarlama becerisi; bu amaçla modern tasarım yöntemlerini uygulama becerisi. (Gerçekçi kısıtlar ve koşullar tasarımın niteliğine göre, ekonomi, çevre sorunları, sürdürülebilirlik, üretilebilirlik, etik, sağlık, güvenlik, sosyal ve politik sorunlar gibi ögeleri içerirler.)
|
Performans Ödevi
|
| DÖÇ-2 |
2- Yarıiletken malzeme ve cihazların nasıl karakterize edileceğinin öğrenilmesi |
PÇ-5 Mühendislik problemlerinin incelenmesi için deney tasarlama, deney yapma, veri toplama, sonuçları analiz etme ve yorumlama becerisi.
|
Performans Ödevi
|
| DÖÇ-3 |
3- Farklı yarıiletken cihazların çalışma performanslarını etkileyen anahtar fiziksel malzeme özelliklerini anlama ve bu doğrultuda hangi karakterizasyon tekniklerinin kullanılması gerektiği çıkarımını yapabilmeyi öğrenme |
PÇ-2 Karmaşık mühendislik problemlerini saptama, tanımlama, formüle etme ve çözme becerisi; bu amaçla uygun analiz ve modelleme yöntemlerini seçme ve uygulama becerisi.
|
Performans Ödevi
|
PÇ: Bölüm program çıktıları
ÖDY: Ölçme ve değerlendirme yöntemi |
| Dersin İçeriği |
| Yarıiletkenlere Giriş, Özdirenç Analizi, Taşıyıcı ve Katkı Yoğunluğu Analizi, Kontak Direnci ve Schottky Bariyer Analizi, Seri direnç, Kanal Uzunluk ve Genişlik, Eşik Voltajı Analizi, Kristal Hata Analizi, Oksit ve Arayüzeyde Hapsolmuş Yük, Oksit Tabaka Kalınlığı Analizi, Taşıyıcı Ömrü Analizi, Mobilite Analizi, Yük bazlı ve Terminal Karakterizasyonu, Optik Karakterizasyon, Kimyasal ve Fiziksel Karakterizasyon, Güvenilirlik ve Hata Analizi |
| Haftalık Detaylı Ders İçeriği |
| Hafta |
Detaylı İçerik |
Öğretim Yöntem ve Teknikleri |
| 1 |
Yarıiletkenlere Giriş |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 2 |
Özdirenç Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 3 |
Taşıyıcı ve Katkı Yoğunluğu Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 4 |
Kontak Direnci ve Schottky Bariyer Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 5 |
Seri direnç, Kanal Uzunluk ve Genişlik, Eşik Voltajı Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 6 |
Hata Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 7 |
Oksit ve Arayüzeyde Hapsolmuş Yük, Oksit Tabaka Kalınlığı Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 8 |
Ara Sınav |
|
| 9 |
Taşıyıcı Ömrü Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 10 |
Mobilite Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 11 |
Yük bazlı ve Terminal Karakterizasyonu |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 12 |
Optik Karakterizasyon |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 13 |
Kimyasal ve Fiziksel Karakterizasyon |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 14 |
Güvenilirlik ve Hata Analizi |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 15 |
Özet |
Anlatım, Soru-cevap, Tartışma |
| 16 |
Final Sınavı |
|
| Ders Kitabı / Yardımcı Kitap |
| 1 |
1- Semiconductor Material and Device Characterization, 3th Edition, Dieter K. Schroder, John Wiley & Sons, Inc, 2006 |
| Ders Araç - Gereç ve Malzemeleri |
| Ders kitabı, dizüstü bilgisayar |
